GWB-300型引伸計標定儀使用說明

請依據JJG762—2007引伸計檢定規程及JJF1096—2002引伸計標定器校準規范的要求，進行引伸計的檢定：
      1、把精密微分測頭固定在底座支架上，在精密微分測量頭上固定一根加長桿可以測量最大標距300mm的引伸計，固定兩根加長桿可以測量最大標距600mm的引伸計。在精密微分測量頭下端留出至少25mm的位移空間，旋緊各個所需緊固部位，在檢定過程中除準許運動位移的部分外，都不準許有任何滑動或松動。
      2、引伸計檢定范圍及檢測點的選擇與測試：
     （1）檢定范圍應根據引伸計需要測試材料的技術參數決定。例如，使用50mm標距引伸計測試鋼材試樣的σP0.2技術數據，那么請您選擇1mm的檢定量程。如果測量n值則需要檢定25mm的檢定量程。
     （2）對檢定點的選擇，一般每個范圍不少于8點。 對于上述選例在1mm的檢定量程內，檢定10點，即每0.1mm檢一點。
     （3）檢定引伸計時一定用整數刻度倍讀法，不要用游標估算讀數或小數尾數讀數，因為每一次的十點讀數已造成了讀數的疲勞，估算讀數或小數尾數讀數會加劇測量誤差的產生。而整數單刻線對整讀法最清晰簡單準確，出現誤差的機率最小，即便出現也會及時發現，因為整數刻度倍讀數的誤差，其引伸計誤差值也會成倍數增加，這種粗大誤差會被很快及時發現。

WB-300型引伸計標定儀維護與保養

      1、儀器出廠時精密微分測量頭的精度己調校好，使用中不得自行拆卸。
      2、應在清潔無塵環境使用，并注意隨時保持儀器的清潔無塵。
      3、注意防止外力損傷及銹蝕的產生。